Dutch 
English 
French 
In-line, multi-element coating analyzer door EDXRF
NEX LS is een compact, in-line energiedispersief röntgenfluorescentiesysteem (EDXRF) dat ideaal is voor het scannen van multi-element coatinganalyse. De in-line, multi-element coating analyzer ondersteunt routinematige kwaliteitscontrole in web- en coiltoepassingen. Het systeem levert cruciale gegevens over coatingeigenschappen en productsamenstelling. Productkwaliteit is afhankelijk van nauwkeurige laagdiktes, correct coatinggewicht en de juiste elementaire samenstelling van een product.
NEX LS maakt continue monitoring hiervan mogelijk zonder onderbreking van de productie. De Rigaku NEX LS, met geavanceerde derde-generatie energie-dispersieve röntgenfluorescentie (EDXRF) technologie, is een volgende-generatie scannende multi-element proces coating analyzer, speciaal ontworpen voor web- of coiltoepassingen.
Hoe werkt het?
De NEX LS is een in-line scanning meetsysteem met een EDXRF analysekop. Het levert real-time elementanalyse voor de elementen aluminium (Al) tot uranium (U). Dit maakt het een essentieel hulpmiddel voor rol-naar-rol (R2R) productieprocessen.
De analysekop beweegt heen en weer over een bewegende baan of spoel en stuurt meetgegevens naar een consolebox en een industriële touchscreen computer. De resultaten verschijnen in realtime als grafische dwarsrichting- en machinerichtingsprofielen. U kunt kiezen tussen volledige scanmodus of specifieke vaste analyseposities instellen.
Energiedispersieve röntgenfluorescentie (EDXRF)
Om superieure analytische prestaties en betrouwbaarheid te garanderen, is de EDXRF meetkop in de NEX LS gebouwd op Rigaku's bewezen NEX serie hoge-resolutie benchtop instrumenten. Met bewezen technologie levert de Rigaku NEX LS snelle, niet-destructieve multi-element analyses. Het meet coatinggewicht, coatingdikte en samenstelling voor elementen variërend van aluminium (₁₃Al) tot uranium (₉₂U).
Laagdikte en samenstelling
De Rigaku NEX LS is ideaal voor web- en coiltoepassingen en biedt multi-element analyse van samenstelling, coatinggewicht of coatingdikte. De meetkop is gemonteerd op een stijve balk en maakt gebruik van een lineair verplaatsingsmechanisme over een rol, waardoor een consistente afstand tussen de meetkop en het oppervlak wordt gegarandeerd.
Waar nodig meet het direct de elementaire samenstelling van een coating. Het systeem kan ook direct het gewicht van de coating (of coatingdikte) meten, aangezien de telsnelheid voor een element evenredig is met de dikte. Als alternatief kan het indirect meten door de demping van een substraatelement te beoordelen, waarbij de telsnelheid negatief gecorreleerd is aan de dikte.
Silicone verwijderbare coatings
Benchtop EDXRF spectrometers zijn al lange tijd een betrouwbare technologie voor release coatings, converters, vacuümgevormde kunststofproducenten en andere industrieën die siliconenoliën gebruiken als barrièrelaag, release coating of denestmiddel. Real-time scannen verbetert de procescontrole, waardoor nauwere toleranties mogelijk worden en de EDXRF-technologie voor de analyse van siliconencoatings vooruitgaat. Siliconencoatings worden aangebracht op plastic en papieren substraten om de release-eigenschappen van een product, zoals labels of verpakkingen, aan te passen.
Als er te weinig silicone wordt aangebracht of als er gebieden op de baan zijn waar de siliconenlaag ontbreekt, kan dit een negatieve invloed hebben op de lossende eigenschappen van de lijm. Dit is vooral het geval bij lossingstoepassingen. Bovendien kunnen verminderde ontestingseigenschappen van het vacuümgevormde plastic leiden tot productafkeur of onderbrekingen in de productie en andere downstreamprocessen. Te veel siliconen aanbrengen verhoogt de kosten van de geproduceerde rol, waardoor de winstgevendheid daalt. In sommige gevallen kan het ook de acceptatie en prestaties van het eindproduct beïnvloeden.
