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ZSX Primus IV

En tant que spectromètre à fluorescence X dispersive en longueur d'onde (WDXRF), le Rigaku ZSX Primus IV permet une détermination quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs, du béryllium (Be) à l'uranium (U), dans les matériaux suivants
Analyse élémentaire des solides, des liquides, des poudres, des alliages et des couches minces

NEX XT

Jauge de soufre de procédé pour les flux de pétrole
Mesure en ligne du soufre de 0,04% à 6%

NEX OL

Analyseur élémentaire EDXRF pour procédés liquides
Contrôle de processus en ligne pour les applications à flux liquide

NEX LS

Le Rigaku NEX LS représente la prochaine évolution des analyseurs de revêtements de processus à balayage multi-éléments pour les applications en bande ou en bobine.
Analyseur de revêtement multi-éléments en ligne par EDXRF
Analyse en ligne et en temps réel du revêtement pour les applications de rouleau à rouleau

NEX QC+ QuantEZ

Analyseur élémentaire de table à fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF). Analyse non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U) dans presque toutes les matrices, des solides et alliages aux poudres, liquides et boues.
Système compact, puissant et abordable de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)

NEX QC Series

Combinez performance et prix abordable pour une large gamme de besoins analytiques.
Analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide et non destructive
L'EDXRF au bout des doigts

SuperMini200

Par rapport aux systèmes XRF concurrents, le Rigaku Supermini200 offre des paramètres fondamentaux supérieurs et des capacités logicielles empiriques dans un instrument à haute résolution et à faible encombrement. En tant qu'instrument de table de grande puissance à dispersion séquentielle en longueur d'onde, le Supermini200 est un instrument de mesure de l'humidité et de l'eau.
Spectromètre WDXRF séquentiel de table de grande puissance
Analyse élémentaire des solides, des liquides, des poudres, des alliages et des couches minces

NEX CGII

EDXRF à excitation indirecte de haute performance pour des applications complexes avec des éléments traces et des matrices de base variables.
Analyse élémentaire améliorée pour le contrôle de la qualité industrielle et les applications de recherche avancée
Spectromètres puissants de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de deuxième génération

Ultra Carry

Support d'échantillon jetable (à usage unique) pour l'analyse par fluorescence X (XRF) utilisé pour pré-concentrer un échantillon liquide aqueux sur un support d'échantillon uniforme optimisé pour la suppression du bruit de fond.

NEX DE Series

EDXRF 60 kV pour des résultats de haute performance lorsque le temps d'analyse ou le débit de l'échantillon est critique ou lorsque l'analyse de petites taches est nécessaire.
Analyse élémentaire qualitative et quantitative puissante et non destructive
Taux de comptage plus élevés, précision améliorée, capacité à analyser facilement des matériaux difficiles.