Rigaku

ZSX Primus IVđť’ľ

Le modèle haute performance à tube inférieur permet une analyse sans compromis des liquides, des alliages et des métaux plaqués. Il est doté d'une fenêtre de tube Be de 30 microns, la fenêtre de tube standard la plus fine de l'industrie, pour des limites de détection exceptionnelles des éléments légers (low-Z).
Analyse radiographique sans compromis de liquides, d'alliages et de métaux plaqués

ZSX Primus IVđť’ľ

Spectromètre séquentiel de fluorescence X dispersive en longueur d'onde à tube inférieur

Spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde séquentielle pour l'analyse par rayons X sans compromis des liquides, des alliages et des métaux plaqués.

 

Système de vide (partition) pour l'analyse des liquides

La chambre du spectromètre étant toujours sous vide, le passage d'une atmosphère sous vide à une atmosphère d'hélium se fait en moins de deux minutes. En outre, la consommation d'hélium gazeux est considérablement réduite par rapport aux modèles qui nécessitent une purge de la chambre.

Amélioration du débit

L'amélioration de la mécanique réduit le temps mort de l'analyse. Par exemple, la durée d'une mesure quantitative séquentielle à 16 éléments a été ramenée de 348 à 287 secondes, ce qui représente une augmentation de 18%.

Analyse D-MCA Ă  grande vitesse

Le système Digital Multi-Channel Analyzer (D-MCA) permet un traitement numérique à grande vitesse, gérant des taux de comptage élevés pour une meilleure précision analytique et un débit plus rapide.

Système optique peu sensible aux variations de hauteur de la surface de l'échantillon

Une surface d'échantillon inégale peut entraîner des variations de la distance entre l'échantillon et le tube radiogène. Ces différences peuvent entraîner des changements dans l'intensité des rayons X. Les systèmes optiques Rigaku aident à minimiser les changements d'intensité des rayons X causés par les variations de distance.

Cela garantit une analyse précise en réduisant les effets des variations de forme des moules de fusion utilisés dans la formulation des billes de verre et l'impact des surfaces inégales de l'échantillon lors du pressage de l'échantillon de poudre.

Analyse ponctuelle/cartographique à l'aide d'un spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde séquentielle 

Équipé d'une caméra à haute résolution, ce système permet aux utilisateurs de zoomer sur de petites caractéristiques pour les identifier et les analyser avec précision. Il garantit des résultats précis en éliminant les différences de sensibilité dues à l'emplacement des mesures. La conception supérieure utilise le point chaud du tube pour maximiser l'intensité et la sensibilité.

Analyse affinée du SQX avec spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde séquentielle 

SQX est un logiciel d'analyse FP sans norme qui calcule la composition élémentaire exacte, maintenant plus facile à utiliser que jamais.

Mécanisme automatisé de nettoyage du fil central

Le fil central du détecteur F-PC est progressivement contaminé par le gaz de trempe du compteur proportionnel, ce qui réduit la résolution. Le mécanisme de nettoyage du fil central rétablit les performances en éliminant la contamination du fil central par chauffage électrique, sans qu'il soit nécessaire de couper la source d'alimentation ou d'ouvrir l'armoire.

Instruments apparentés

SuperMini200

Par rapport aux systèmes XRF concurrents, le Rigaku Supermini200 offre des paramètres fondamentaux supérieurs et des capacités logicielles empiriques dans un instrument à haute résolution et à faible encombrement. En tant qu'instrument de table de grande puissance à dispersion séquentielle en longueur d'onde, le Supermini200 est un instrument de mesure de l'humidité et de l'eau.
Spectromètre WDXRF séquentiel de table de grande puissance
Analyse élémentaire des solides, des liquides, des poudres, des alliages et des couches minces

ZSX Primus IV

Spectromètre WDXRF séquentiel à tube au-dessus qui mesure rapidement les éléments majeurs et mineurs, du béryllium (Be) à l'uranium (U), dans de nombreux types d'échantillons avec une utilisation minimale d'étalons.
Analyse élémentaire des solides, des liquides, des poudres, des alliages et des couches minces

ZSX Primus III NEXT

Rigaku ZSX Primus III NEXT permet un contrôle rapide de la qualité élémentaire industrielle par la détermination quantitative des éléments majeurs et mineurs de Be à Cm pour les échantillons en poudre et solides.
Analyse élémentaire d'échantillons solides
Tube à rayons X - configuration supérieure

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