ZSX Primus IV𝒾

WDXRF séquentiel « tube en dessous » pour une analyse élémentaire sans compromis des liquides, alliages et revêtements

Le spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WDXRF) ZSX Primus IV𝒾 est équipé d’un tube à rayons X de 4 kW avec une fenêtre en béryllium ultrafine de 30 μm, la plus fine fenêtre de tube disponible sur le marché, offrant des limites de détection exceptionnelles pour les éléments légers.

Idéal pour l’analyse des liquides

Ce spectromètre WDXRF fournit des performances supérieures et une grande flexibilité pour analyser les échantillons les plus complexes. Le ZSX Primus IV𝒾 est l’instrument idéal pour l’analyse des liquides; le passage de l’atmosphère sous vide à une atmosphère d’hélium s’effectue en moins de deux minutes. De plus, la consommation d’hélium est nettement inférieure à celle des modèles comparables.

Efficacité accrue

Une mécanique améliorée réduit le temps mort de l’analyse. La durée d’une mesure quantitative séquentielle sur 16 éléments est passée de 348 secondes à 287 secondes, ce qui représente une augmentation d’efficacité de 18 %. De plus, l’analyseur multi-canaux numérique (D-MCA) permet un traitement numérique à grande vitesse, combinant des taux de comptage élevés pour une meilleure précision analytique et un débit plus rapide.

Analyse WDXRF ponctuelle et par cartographie

Le ZSX Primus IV𝒾 est équipé d’une caméra haute résolution permettant aux utilisateurs de zoomer sur de petites surfaces. De plus, les variations de sensibilité dues au déplacement sont éliminées, assurant une identification et une analyse précises. Ce design supérieur exploite le hotspot du tube à rayons X pour maximiser l’intensité et la sensibilité. Associé à un logiciel avancé de cartographie, le ZSX Primus IV facilite l’analyse de l’homogénéité et des défauts dans les échantillons.

Analyse SQX avancée

Grâce au logiciel SQX de paramètres fondamentaux, les utilisateurs peuvent analyser des échantillons avec une matrice inconnue.

SQX corrige les effets de matrice, y compris les recouvrements de raies, et prend également en compte l’excitation secondaire par photoélectrons (pour les éléments légers et ultra-légers), les variations atmosphériques, les impuretés et les différentes tailles d’échantillons. Une précision accrue peut être obtenue grâce à l’utilisation des bibliothèques de correspondance (Matching Libraries).  

Analyse ponctuelle / cartographie avec un spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde séquentielle 

Équipé d’une caméra haute résolution, ce système permet aux utilisateurs de zoomer sur de petites caractéristiques pour une identification et une analyse précises. Il garantit des résultats exacts en éliminant les différences de sensibilité dues au placement de la mesure. Sa conception supérieure exploite le point chaud du tube afin de maximiser l’intensité et la sensibilité.

Analyse affinée du SQX avec spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d'onde séquentielle 

SQX est un logiciel d'analyse FP sans norme qui calcule la composition élémentaire exacte, maintenant plus facile à utiliser que jamais.

Mécanisme automatisé de nettoyage du fil central

Le fil central du détecteur F-PC est progressivement contaminé par le gaz de trempe du compteur proportionnel, ce qui réduit la résolution. Le mécanisme de nettoyage du fil central rétablit les performances en éliminant la contamination du fil central par chauffage électrique, sans qu'il soit nécessaire de couper la source d'alimentation ou d'ouvrir l'armoire.