ZSX Primus IV

Spectromètre séquentiel de fluorescence X dispersive en longueur d'onde, placé au-dessus d'un tube

Spectromètre de fluorescence X dispersif en longueur d'onde pour l'analyse élémentaire des solides, des liquides, des poudres, des alliages et des couches minces.

Nouveau logiciel XRF avec système expert ZSX Guidance

ZSX Guidance vous aide à chaque étape de la mesure XRF et de l'analyse des données. Auparavant, seuls les experts pouvaient effectuer des analyses précises. Désormais, avec le logiciel ZSX Guidance, l'expertise intégrée gère les paramètres complexes à votre place.

Les opérateurs n'ont qu'à saisir les informations de base concernant les échantillons, les éléments à analyser et les compositions standard. Le logiciel sélectionne ensuite automatiquement les meilleures lignes de mesure, les paramètres d'arrière-plan et les paramètres de correction, y compris les chevauchements de lignes, en utilisant des spectres qualitatifs pour guider le processus. Vous pouvez effectuer l'analyse élémentaire de solides, de liquides, de poudres, d'alliages et de couches minces.

Performances exceptionnelles de l'élément lumineux XRF avec une optique inversée pour une fiabilité supérieure

Le ZSX Primus IV est doté d'une configuration innovante de l'optique au-dessus. Le ZSX Primus IV est doté d'une conception unique de l'optique au-dessus. Cette configuration innovante maintient le trajet du faisceau propre, réduisant le risque de contamination et minimisant les temps d'arrêt pour la maintenance de la chambre d'échantillon.

Le spectromètre WDXRF ZSX Primus IV offre des performances et une flexibilité exceptionnelles, même pour les échantillons les plus complexes. Il est équipé d'un tube à fenêtre terminale de 30 microns, le plus fin de l'industrie, pour une détection exceptionnelle des éléments légers (low-Z).

Cartographie et analyse XRF multi-spots avec un spectromètre de fluorescence X dispersif en longueur d'onde

Le ZSX Primus IV, associé à un logiciel de cartographie avancé, permet d'effectuer facilement des analyses spectrométriques XRF détaillées des échantillons. Il détecte rapidement l'homogénéité de l'échantillon et les inclusions. Cette capacité permet d'obtenir des informations analytiques difficiles à obtenir avec d'autres méthodes d'analyse. En outre, l'analyse multi-spots disponible permet de réduire les erreurs d'échantillonnage lorsque l'on travaille avec des matériaux inhomogènes.

Paramètres fondamentaux du SQX avec le logiciel EZ-scan

EZ-scan facilite l'analyse élémentaire XRF d'échantillons inconnus sans aucune configuration préalable. Cette fonction, qui permet de gagner du temps, ne nécessite que quelques clics de souris et un nom d'échantillon pour démarrer. En outre, lorsqu'il est associé au logiciel de paramètres fondamentaux SQX, il fournit les résultats XRF les plus précis et les plus rapides possibles.

SQX corrige notamment tous les effets de matrice, y compris les chevauchements de lignes. Il tient également compte de l'excitation secondaire par les photoélectrons (éléments légers et ultra-légers), des atmosphères variables, des impuretés et des différentes tailles d'échantillons. Pour une précision encore plus grande, il peut être associé à des programmes d'analyse de bibliothèque et de balayage parfait.