ZSX Primus IV

Spectromètre WDXRF 4 kW pour applications industrielles

Le spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WDXRF) Rigaku ZSX Primus IV offre une analyse élémentaire rapide et précise pour le contrôle qualité industriel. Il permet la détermination quantitative des éléments du béryllium (Be) au curium (Cm) dans des solides, liquides, poudres, alliages et films minces. Le ZSX Primus IV est équipé d’un tube à rayons X de type end-window de 4 kW avec cible en rhodium, garantissant des performances et une flexibilité exceptionnelles, même pour les échantillons les plus complexes. Le tube à rayons X intègre des fenêtres en béryllium ultrafines de 30 μm, permettant une détection exceptionnelle des éléments légers (faible-Z).

Logiciel ZSX Guidance

Le logiciel ZSX Guidance vous accompagne à chaque étape des mesures XRF et de l’analyse des données, en prenant en charge les réglages complexes. Les opérateurs n’ont qu’à saisir les informations de base sur les échantillons, les éléments à analyser et les compositions des étalons.

Le logiciel sélectionne automatiquement les meilleures raies de mesure, les réglages de fond et les paramètres de correction, y compris les recouvrements de raies, en s’appuyant sur des spectres qualitatifs pour guider le processus.

Optique "tube au-dessus" pour une fiabilité optimale

Le ZSX Primus IV est doté d’une conception innovante avec tube au-dessus de l’échantillon, éliminant ainsi les risques de contamination de l’optique à rayons X ou de la chambre d’échantillons. Cette géométrie réduit considérablement les besoins de nettoyage et maximise la disponibilité de l’instrument.

Le positionnement hautement précis de l’échantillon garantit une distance constante entre la surface de l’échantillon et le tube à rayons X, un facteur clé pour les applications nécessitant une grande précision et une stabilité optimale des mesures.

Analyse WDXRF par cartographie et multi-spot

Le ZSX Primus IV, associé à un logiciel avancé de cartographie, facilite l’analyse de l’homogénéité et des défauts dans les échantillons. De plus, le module d’analyse multi-spot aide à réduire les artefacts lors de l’étude de matériaux hétérogènes. 

Logiciel EZ-scan avec module SQX de paramètres fondamentaux

Associé au module SQX de paramètres fondamentaux, il permet d’analyser des échantillons avec une matrice inconnue. SQX corrige les effets de matrice, y compris les recouvrements de raies.

Il prend aussi en compte l’excitation secondaire par photoélectrons (pour les éléments légers et ultra-légers), les variations atmosphériques, les impuretés et les différentes tailles d’échantillons. Une précision accrue peut être obtenue grâce à l’utilisation des bibliothèques de correspondance (Matching Libraries).