Spectromètre WDXRF séquentiel au-dessus du tube pour applications industrielles
Ce spectromètre WDXRF pour applications industrielles est idéal pour l'analyse élémentaire d'échantillons solides.
Le Rigaku ZSX Primus III NEXT permet une analyse élémentaire rapide et précise pour le contrôle de la qualité industrielle. Il permet la détermination quantitative des éléments majeurs et mineurs, du béryllium (Be) au curium (Cm), dans les échantillons solides et en poudre.
Optique au-dessus du tube pour une fiabilité supérieure
Le ZSX Primus III Next est doté d'une conception innovante de l'optique au-dessus. Il élimine les problèmes de contamination du trajet du faisceau ou les temps d'arrêt liés à l'entretien de la chambre d'échantillonnage. La géométrie de l'optique au-dessus réduit le besoin de nettoyage et maximise le temps de fonctionnement de l'instrument.
Positionnement de haute précision de l'échantillon
Le positionnement très précis de l'échantillon garantit une distance constante entre la surface de l'échantillon et le tube à rayons X. Cette stabilité est essentielle pour les applications nécessitant une grande précision, telles que l'analyse des alliages. Cette stabilité est essentielle pour les applications exigeant une grande précision, telles que l'analyse des alliages.
Le ZSX Primus III+ permet une analyse de haute précision grâce à une configuration optique unique qui minimise les erreurs causées par les surfaces non planes des échantillons tels que les billes fondues et les pastilles pressées.
Paramètres fondamentaux du SQX avec le logiciel EZ-scan
EZ-scan permet aux utilisateurs d'analyser des échantillons inconnus sans configuration préalable. Cette fonction, qui permet de gagner du temps, ne nécessite que quelques clics et un nom d'échantillon pour démarrer. Associé au logiciel de paramètres fondamentaux SQX, il fournit les résultats XRF les plus rapides et les plus précis possibles.
Le SQX corrige automatiquement tous les effets de matrice, y compris les chevauchements de lignes. Le SQX peut également corriger les effets d'excitation secondaire des photoélectrons (pour les éléments légers et ultra-légers), les atmosphères variables, les impuretés et les différentes tailles d'échantillons. Une précision accrue est obtenue grâce à l'utilisation d'une bibliothèque de correspondance et de programmes d'analyse par balayage parfait.
Spectromètre WDXRF adapté aux applications industrielles
Le ZSX Primus III NEXT est un outil idéal (spectromètre dispersif à rayons X) pour toute application industrielle nécessitant une analyse élémentaire, comme par exemple :
- Minéraux et exploitation minière
- Métaux
- Ciment
- Céramiques et réfractaires
- Fabrication du verre
- Pétrochimie
- Produits chimiques
- Environnement
Partage facile de l'application
Le ZSX Primus III NEXT, ZSX Primus IVet ZSX Primus IVi partagent la même plate-forme matérielle et logicielle, ce qui facilite le partage des applications entre les spectromètres.