Rigaku

ZSX Primus III NEXT

Le Rigaku ZSX Primus III NEXT WDXRF offre un contrôle qualité industriel rapide et précis, grâce à la détermination quantitative des éléments allant du Be au Cm dans des échantillons solides et en poudre
Analyse élémentaire des échantillons solides
Configuration avec tube au-dessus de l’échantillon

ZSX Primus III NEXT

Spectromètre WDXRF 3 kW pour applications industrielles

Le spectromètre de fluorescence X à dispersion de longueur d’onde (WDXRF) Rigaku ZSX Primus III NEXT offre une analyse élémentaire rapide et précise pour le contrôle qualité industriel.

Il est équipé d’un tube à rayons X de type end-window de 3 kW avec cible en rhodium, permettant la détermination quantitative des éléments allant du béryllium (Be) au curium (Cm) dans des échantillons en poudre ou solides.

Optique "tube au-dessus" pour une fiabilité optimale

Le ZSX Primus III NEXT est doté d’une conception innovante avec tube au-dessus de l’échantillon, éliminant ainsi les risques de contamination de l’optique à rayons X ou de la chambre d’échantillons. Cette géométrie réduit considérablement les besoins de nettoyage et maximise la disponibilité de l’instrument. Le positionnement hautement précis de l’échantillon garantit une distance constante entre la surface de l’échantillon et le tube à rayons X, un facteur clé pour les applications nécessitant une grande précision et une stabilité optimale des mesures.

 

Positionnement d’échantillon haute précision

Le positionnement d’échantillon haute précision garantit une distance constante entre la surface de l’échantillon et le tube à rayons X. Cette stabilité est essentielle pour les applications nécessitant une grande exactitude, telles que l’analyse des alliages.

Le ZSX Primus III+ offre une analyse de haute précision grâce à une configuration optique unique qui minimise les erreurs causées par des surfaces non planes dans des échantillons tels que les perles fondues et les pastilles pressées.

 

Logiciel EZ-scan avec module SQX de paramètres fondamentaux

Grâce au logiciel EZ-scan équipé du module SQX de paramètres fondamentaux, les utilisateurs peuvent analyser des échantillons avec une matrice inconnue. Cette fonctionnalité, qui fait gagner du temps, ne nécessite que quelques clics et un nom d’échantillon pour démarrer. Le module SQX corrige automatiquement tous les effets de matrice, y compris les recouvrements de raies.

Il peut également compenser les effets d’excitation secondaire des photoélectrons (pour les éléments légers et ultra-légers), les variations atmosphériques, les impuretés et les différentes tailles d’échantillons. Une précision accrue peut être obtenue grâce à l’utilisation des bibliothèques de correspondance (Matching Libraries).

 

Spectromètre WDXRF pour applications industrielles 

Le ZSX Primus III NEXT est un instrument idéal pour les analyses élémentaires industrielles dans des domaines tels que :

  • Minéraux et exploitation minière
  • Métaux
  • Ciment
  • Céramiques et matériaux réfractaires
  • Fabrication du verre
  • Produits pétrochimiques
  • Produits chimiques
  • Environnement

 

Série ZSX Primus

Le ZSX Primus III NEXT, ZSX Primus IVet ZSX Primus IVi la même plateforme matérielle et logicielle, ce qui facilite le partage des applications entre les différents spectromètres.

Instruments apparentés

ZSX Primus IV𝒾

Le modèle haute performance à tube inférieur permet une analyse sans compromis des liquides, des alliages et des métaux plaqués. Il offre des performances supérieures et la flexibilité nécessaire pour analyser les échantillons les plus complexes. Il est doté d'une fenêtre de tube Be de 30 microns,
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Tube à rayons X avec fenêtre en Be ultrafine, offrant des limites de détection exceptionnelles pour les éléments légers (faible-Z)

ZSX Primus IV

Spectromètre WDXRF séquentiel 4 kW pour l’analyse élémentaire du Be à U dans de nombreux types d’échantillons, avec un usage minimal d’étalons
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SuperMini200

Par rapport aux systèmes XRF concurrents, le Rigaku Supermini200 offre des paramètres fondamentaux supérieurs et des capacités logicielles empiriques dans un instrument à haute résolution et à faible encombrement. En tant qu'instrument de table de grande puissance à dispersion séquentielle en longueur d'onde, le Supermini200 est un instrument de mesure de l'humidité et de l'eau.
WDXRF de paillasse avec faibles coûts opérationnels et haute résolution
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