NEX LS

Comment cela fonctionne-t-il ?

Le NEX LS est un système de mesure à balayage en ligne équipé d'une tête d'analyse EDXRF. Il fournit une analyse élémentaire en temps réel pour les éléments de l'aluminium (Al) à l'uranium (U). Il s'agit donc d'un outil essentiel pour les processus de fabrication de rouleau à rouleau (R2R).

La tête d'analyse se déplace d'avant en arrière sur une bande ou une bobine en mouvement, envoyant les données de mesure à une console et à un ordinateur industriel à écran tactile. Les résultats apparaissent en temps réel sous forme de profils graphiques dans le sens transversal et dans le sens machine. Vous pouvez choisir le mode de balayage complet ou définir des positions d'analyse fixes spécifiques.

Fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF)

Pour garantir une performance analytique et une fiabilité supérieures, la tête de mesure EDXRF du NEX LS est construite sur les instruments de table haute résolution de la série NEX de Rigaku, qui ont fait leurs preuves. Grâce à sa technologie éprouvée, le NEX LS de Rigaku fournit des analyses multiéléments rapides et non destructives. Il mesure le poids du revêtement, l'épaisseur du revêtement et la composition pour des éléments allant de l'aluminium (₁₃Al) à l'uranium (₉₂U).

Épaisseur et composition du revêtement

Le Rigaku NEX LS est idéal pour les applications sur bandes et bobines, offrant une analyse multi-éléments de la composition, du poids du revêtement ou de l'épaisseur du revêtement. La tête de mesure est montée sur une poutre rigide et utilise un mécanisme de déplacement linéaire sur un rouleau, assurant une distance constante entre la tête et la surface.

Il mesure directement la composition élémentaire d'un revêtement lorsque cela est nécessaire. Le système peut également mesurer directement le poids du revêtement (ou son épaisseur), car le taux de comptage d'un élément est proportionnel à son épaisseur. Il peut aussi mesurer indirectement en évaluant l'atténuation d'un élément du substrat, le taux de comptage étant négativement corrélé à l'épaisseur.

Revêtements antiadhésifs à base de silicone

Les spectromètres EDXRF de table sont depuis longtemps une technologie fiable pour les revêtements anti-adhérents, les transformateurs, les fabricants de plastiques formés sous vide et d'autres industries qui utilisent des huiles de silicone comme couches barrières, revêtements anti-adhérents ou agents de dénaturation. Le balayage en temps réel améliore le contrôle des processus, permet des tolérances plus étroites et fait progresser la technologie EDXRF pour l'analyse des revêtements en silicone. Les revêtements de silicone sont appliqués sur des substrats en plastique et en papier pour ajuster les propriétés antiadhésives d'un produit comme les étiquettes ou les emballages.

L'application d'une quantité insuffisante de silicone ou l'absence de silicone dans certaines zones de la bande peuvent avoir un impact négatif sur les propriétés d'anti-adhérence de l'adhésif. Cela est particulièrement vrai dans les applications de décollage. En outre, les caractéristiques de dénudage compromises du plastique formé sous vide peuvent entraîner le rejet du produit ou des perturbations dans la fabrication et d'autres processus en aval. L'application d'une trop grande quantité de silicone augmente le coût du rouleau fabriqué, ce qui réduit la rentabilité. Dans certains cas, cela peut également affecter l'acceptation et la performance du produit final.

L'analyseur de revêtement multi-éléments est excellent pour :