NEX DE Series

Analyse élémentaire qualitative et quantitative non destructive

La série Rigaku NEX DEutilise un puissant tube à rayons X de 60 kV et fonctionne par excitation directe. excitation directe et performante EDXRF Ces spectromètres de fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF) offrent une analyse élémentaire rapide et non destructive, du sodium à l’uranium, dans presque tous les types d’échantillons. 

Ces appareils délivrent des performances analytiques supérieures avec des taux de comptage élevés, une précision améliorée et la capacité d’analyser même les matériaux les plus complexes. Les séries NEX DE sont également idéales pour les mesures EDXRF à petit spot. Cette polyvalence permet aux NEX DE de couvrir un large éventail d’applications, allant des contrôles qualité exigeants aux analyses précises de petits échantillons. 

Améliorez votre analyse avec un EDXRF puissant

Ces instruments sont conçus pour la rapidité et la précision. La série NEX DE est équipée d’un tube à rayons X de 60 kV, 12 W, de filtres de tube simples et multicouches ainsi que d’un détecteur à dérive de silicium (SDD) à haut débit avec des taux de comptage supérieurs à 500 000 cps. Ces caractéristiques permettent d’obtenir de faibles limites de détection et une excellente résolution spectrale..

De plus, l’appareil peut être équipé de plusieurs changeurs automatiques d’échantillons. Associées au puissant logiciel QuantEZ, ces fonctionnalités offrent des performances inégalées. La grande chambre d’échantillonnage peut accueillir des échantillons d’un diamètre allant jusqu’à 30 cm et d’une hauteur jusqu’à 10 cm.

Mesures EDXRF à petit spot

Pour l’analyse à petit spot, le modèle NEX DE VS est équipé d’une caméra haute résolution et de collimateurs automatiques pour un positionnement précis des échantillons avec des tailles de spot de 1 mm, 3 mm et 10 mm. 

L’interface Point Analysis et la caméra intégrée facilitent le positionnement des échantillons. Le NEX DE VS est idéal pour la mesure de revêtements sur de petites pièces et le criblage de petits échantillons. 

Principaux avantages et caractéristiques de la série EDXRF NEX DE :

• Analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U)
• Solides, liquides, alliages, poudres et films minces
• Détecteur SDD performant pour des résultats supérieurs
• Rapport performance/prix inégalé
• Logiciel QuantEZ puissant et facile à utiliser avec interface multilingue
• Tube à rayons X de 60 kV pour une large couverture élémentaire
• Plusieurs filtres automatiques du tube pour une sensibilité améliorée
• Analyse en air ou en hélium
• Support SureDI pour la conformité à la norme 21 CFR Part 11
• Caméra haute résolution et collimateurs automatisés pour un positionnement précis des échantillons (NEX DE VS)
• Analyse de spots de 1 mm, 3 mm et 10 mm (NEX DE VS)

Que ce soit pour un contrôle qualité de base ou pour un contrôle qualité analytique plus avancé, les spectromètres de la série NEX DE fournissent des résultats rapides et de haute qualité sans besoin de configurations complexes.

La série NEX DE comprend les modèles suivants : NEX DE en NEX DE VS