NEX CG II

Analyse élémentaire améliorée grâce à une géométrie cartésienne

Le NEX CG II est un spectromètre de fluorescence X à dispersion d’énergie (EDXRF) de deuxième génération, conçu pour des analyses élémentaires qualitatives et quantitatives rapides. Il est compatible avec une grande variété de types d’échantillons, notamment les huiles, liquides, solides, métaux, polymères, poudres, revêtements et films minces.

Géométrie cartésienne et polarisation pour une sensibilité à l’échelle des traces 

Le NEX CG II, un EDXRF de paillasse, réalise l’analyse élémentaire à l’aide d’un noyau optique en géométrie cartésienne close-coupled. Cette conception avancée améliore considérablement la sensibilité en optimisant le rapport signal/bruit de fond, ce qui permet d’obtenir des performances analytiques supérieures.

Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, le NEX CG II utilise une excitation indirecte par cibles secondaires (au lieu de filtres de tube). Cette excitation monochromatique et polarisée permet de réduire significativement les limites de détection, en particulier pour les éléments présents dans des matrices fortement diffusantes telles que l’eau, les hydrocarbures et les matériaux biologiques.

La géométrie cartésienne complète à 90° avec excitation par cibles secondaires élimine également le bruit de fond. En conséquence, le NEX CG II introduit un nouveau niveau de sensibilité analytique dans la technologie XRF, même pour les échantillons complexes ou très diffusants.

Applications du NEX CGII :

• Agriculture et matériaux d’origine végétale
• Aliments pour animaux
• Huiles
• Surveillance environnementale
• Pharmaceutique et cosmétique
• Catalyseurs
• Contrôle des métaux toxiques sur filtres à air
• Métaux lourds et éléments de terres rares
• Autres applications nécessitant une sensibilité analytique élevée

Principaux avantages et caractéristiques de l’EDXRF de paillasse NEX CG II :

• Analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U)
• Solides, liquides, poudres, revêtements et films minces
• Excitation indirecte pour des limites de détection exceptionnellement basses
• Tube à rayons X haute puissance (50 kV / 50 W ou 65 kV / 100 W)
• Détecteur à dérive de silicium (SDD) à grande surface et haute capacité de traitement
• Analyse possible en air, hélium ou sous vide
• Logiciel QuantEZ puissant et facile à utiliser avec interface multilingue
• Logiciel avancé Rigaku RPF-SQX basé sur les paramètres fondamentaux
• Algorithme Rigaku Profile Fitting (RPF) pour la déconvolution avancée des spectres
• Support SureDI pour la conformité à la norme 21 CFR Part 11
• Différents changeurs automatiques d’échantillons pour des échantillons jusqu’à 52 mm
• Faible coût de possession