NEX CGII

Analyse élémentaire améliorée pour le contrôle de la qualité industrielle et les applications de recherche avancée

Les spectromètres de la série NEX CG II sont des spectromètres de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) avancés de deuxième génération, conçus pour l'analyse qualitative et quantitative rapide des éléments atomiques majeurs et mineurs. Ils traitent une grande variété de types d'échantillons, notamment huiles, liquides, solides, métaux, polymères, poudres, pâtes, revêtements et films minces. Ils sont idéaux pour mesurer les oligo-éléments à des niveaux allant de l'ultra-faible au pourcent.

Géométrie cartésienne et polarisation pour une sensibilité au niveau de la trace 

Les spectromètres à fluorescence X de la série NEX CG II relèvent les défis de l'analyse élémentaire grâce à un noyau optique à géométrie cartésienne à couplage étroit. Cette conception avancée améliore considérablement la sensibilité en augmentant le rapport signal/bruit, ce qui se traduit par des performances supérieures en matière d'analyse élémentaire.

Contrairement aux spectromètres EDXRF conventionnels, la série NEX CG II utilise un système d'excitation indirecte avec des cibles secondaires au lieu de filtres tubulaires. Cette excitation monochromatique et polarisée améliore considérablement les limites de détection, en particulier pour les éléments présents dans des matrices à forte diffusion telles que l'eau, les hydrocarbures et les matières biologiques. La géométrie cartésienne à 90° avec l'excitation des cibles secondaires élimine également le bruit de fond.

Par conséquent, les spectromètres de la série NEX CG II apportent un nouveau niveau de sensibilité analytique à la technologie XRF. Ils permettent de mesurer avec précision les concentrations d'éléments ultra-faibles et de traces, même dans des types d'échantillons complexes ou très diffusants.

Spectromètres de fluorescence X sont bien adaptés aux applications suivantes :

• Terres agricoles et matériaux végétaux
• Aliments finis pour animaux
• Huiles usagées
• Surveillance de l'environnement
• Produits pharmaceutiques et cosmétiques
• Catalyseurs
• Surveillance des métaux toxiques dans les aérosols sur les filtres à air
• Traces de métaux lourds et d'éléments terrestres rares (ETR)
• Autres applications nécessitant un haut degré de sensibilité

Principaux avantages et caractéristiques des spectromètres de fluorescence X

• Analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l'uranium (U)
• Analyses élémentaires rapides de solides, de liquides, de poudres, de revêtements et de films minces
• Excitation indirecte pour des limites de détection exceptionnellement basses
• Tubes à rayons X de haute puissance (50 kV 50 W ou 65 kV 100 W)
• Détecteur de dérive au silicium (SDD) à grande surface et à haut rendement
• Analyse dans l'air, l'hélium ou le vide
• Logiciel QuantEZ puissant et facile à utiliser avec interface utilisateur multilingue
• Logiciel avancé RPF-SQX Fundamental Parameters avec Scattering FP
• Algorithme avancé Rigaku Profile Fitting (RPF) pour la déconvolution des pics
• Support SureDI pour la conformité 21 CFR Part 11
• Différents passeurs d'échantillons automatiques pouvant accueillir des échantillons jusqu'à 52 mm
• Faible coût de possession