Applications : Elemental analysis

Des institutions de premier plan lui font confiance
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SEAL Analytical
Courageux
Lia

NEX CGII

EDXRF à excitation indirecte de haute performance pour des applications complexes avec des éléments traces et des matrices de base variables.
Analyse élémentaire améliorée pour le contrôle de la qualité industrielle et les applications de recherche avancée
Spectromètres puissants de fluorescence X à dispersion d'énergie (EDXRF) de deuxième génération

Ultra Carry

Support d'échantillon jetable (à usage unique) pour l'analyse par fluorescence X (XRF) utilisé pour pré-concentrer un échantillon liquide aqueux sur un support d'échantillon uniforme optimisé pour la suppression du bruit de fond.

NEX DE Series

EDXRF 60 kV pour des résultats de haute performance lorsque le temps d'analyse ou le débit de l'échantillon est critique ou lorsque l'analyse de petites taches est nécessaire.
Analyse élémentaire qualitative et quantitative puissante et non destructive
Taux de comptage plus élevés, précision améliorée, capacité à analyser facilement des matériaux difficiles.