Applications : Elemental analysis

Des institutions de premier plan lui font confiance
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SEAL Analytical
Courageux
Lia

Inductar CS Cube

Analyseur avancé de carbone et de soufre pour les matériaux inorganiques
Fonctionnement fiable, sans surveillance, 24 heures sur 24, 7 jours sur 7
Pas de nettoyage fastidieux et bruyant à l'aide d'un aspirateur

NEX QC Series

Alliez performance et budget pour une large gamme de besoins analytiques
Analyse élémentaire qualitative et quantitative rapide et non destructive
L'EDXRF au bout des doigts

NEX QC+ QuantEZ

EDXRF de paillasse pour l’analyse élémentaire non destructive du sodium (Na) à l’uranium (U) dans presque toutes les matrices, des solides et alliages aux poudres, liquides et suspensions
Système EDXRF compact, performant et économique
Convient également pour les mesures sans étalons

NEX DE Series

EDXRF de paillasse avec tube à rayons X de 60 kV pour des résultats de haute qualité, lorsque le temps d’analyse et/ou le débit d’échantillons sont critiques
Analyse élémentaire qualitative et quantitative non destructive, même pour des échantillons complexes
Temps de mesure plus court et précision accrue

NEX CG II

EDXRF puissant à excitation indirecte pour des applications complexes avec éléments traces et matrices variables
Analyse élémentaire améliorée grâce à une géométrie cartésienne
EDXRF de deuxième génération, allant du contrôle qualité industriel aux applications de recherche avancée

SuperMini200

Par rapport aux systèmes XRF concurrents, le Rigaku Supermini200 offre des paramètres fondamentaux supérieurs et des capacités logicielles empiriques dans un instrument à haute résolution et à faible encombrement. En tant qu'instrument de table de grande puissance à dispersion séquentielle en longueur d'onde, le Supermini200 est un instrument de mesure de l'humidité et de l'eau.
WDXRF de paillasse avec faibles coûts opérationnels et haute résolution
Analyse élémentaire de solides, liquides, poudres, alliages et films minces

ZSX Primus III NEXT

Le Rigaku ZSX Primus III NEXT WDXRF offre un contrôle qualité industriel rapide et précis, grâce à la détermination quantitative des éléments allant du Be au Cm dans des échantillons solides et en poudre
Analyse élémentaire des échantillons solides
Configuration avec tube au-dessus de l’échantillon

ZSX Primus IV

Spectromètre WDXRF séquentiel 4 kW pour l’analyse élémentaire du Be à U dans de nombreux types d’échantillons, avec un usage minimal d’étalons
Analyse élémentaire de solides, liquides, poudres, alliages et films minces

ZSX Primus IV𝒾

Le modèle haute performance à tube inférieur permet une analyse sans compromis des liquides, des alliages et des métaux plaqués. Il offre des performances supérieures et la flexibilité nécessaire pour analyser les échantillons les plus complexes. Il est doté d'une fenêtre de tube Be de 30 microns,
Analyse élémentaire de solides, liquides, poudres, alliages et revêtements
Tube à rayons X avec fenêtre en Be ultrafine, offrant des limites de détection exceptionnelles pour les éléments légers (faible-Z)

Ultra Carry

Accessoire pour la préparation des échantillons XRF aqueux, le liquide à analyser est concentré sur un porte-échantillon uniforme, optimisé pour la suppression du bruit de fond
Limites de détection élémentaire au niveau ppb pour les échantillons aqueux